OLTR300是一款适用于半导体器件及散热系统的在线式热阻测试设备，采用国际领先的瞬态升温测量技术和结构函数法原理，实现对半导体器件多层结构热阻的无损检测，具有测量速度快、测试精度高、对器件无损、测量对象覆盖广等特点。
•采用电学法，通过测量结温瞬态变化，获取热流路径上各材料层的温升和热阻值(结构函数热分析功能)
•测量对象覆盖广，包括:Diode，LED，LD，BJT，IGBT，HEMT，VDMOS，SiCMOSFET等:
•可根据用户特殊用途提供“一对一”定制化服务，人机交互界面友好，测量过程自动;采用独创的动态温度系数测量方法，测量速度传统方法提高10倍以上;精度高，对被测器件无损;并通过第三方机构计量和可靠性试验
•符合JEDECJESD51-1、GB/T4023-1997、MIL-STD-750D等国内外测试标准
